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AN4435:STM32应用中UL/CSA/IEC 60730-1/60335-1的 B类认证获取指南

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zero99 发布时间:2018-11-6 16:07
STM32应用中UL/CSA/IEC 60730-1/60335-1的 B类认证获取指南
" w5 M+ ~  V9 t' _2 U0 ?; V- O$ k/ O$ ~% _0 ]8 C
前言4 h; H2 D2 N7 u& ^  z: ]! q
2 A& r) K: O3 z2 e
安全在电子应用领域起着越来越重要的作用。在电子设计中,组件的安全要求水平不断上升,电子设备制造商将很多新技术解决方案纳入了新组件设计。用于提高安全的软件技术不断涌现。硬件和软件的安全要求相关标准也在持续开发中。
, W, s( h# _* U8 W" w由IEC(国际电工委员会)、UL(美国保险商实验室)及CSA(加拿大标准协会)颁布的全球公认标准指定了当前安全建议和要求,并被TUV及VDE(大部分在欧洲)、UL及CSA(目标市场在美国和加拿大)等机构归入依从性、验证及认证程序。# |4 L, o0 Z' e) j0 M" Q; [
对于基于STM32 32位ARM ® Cortex ® 微控制器(受这些要求和认证管制)的应用,该应用笔记和相关软件X-CUBE-CLASSB的主要目的是促进和加速用户软件开发及认证程序。. p0 }7 C8 E1 @( t1 ]1 m+ z. y
安全软件包(自检库-STL)收集通用的测试组,这些测试组主要用于STM32微控制器的通用逻辑块。STL组基于独特的STM32Cube接口,带有特定的HAL(硬件抽象层)服务和ST发布的专用STM32产品驱动。系列差异被产品特定测试和新增设置所覆盖(如CPU内核、RAM设计、时钟控制)。
  u' h) E. f: }' j9 @用户可将STL软件包和专用HAL驱动连同附加的产品特定测试及设置一起纳入最终用户项目。STL软件包的实现示例可用于主流STM32F0和STM32F3、高性能STM32F2和STM32F4及低功耗STM32L0和STM32L1系列的特定产品。每个例子都包括三个项目(IAR™-EWARM、Keil ® MDK-ARM ® 及Ac6 Eclipse™ 环境和工具链),建立在专用ST评估板上。
, K6 k2 I# j6 K2 h' O  E由于HAL服务统一的Cube接口,STL包的公用部分可重新用于STM32系列的任何其他微控制器。- I' J) k; X1 ~6 l+ J* t
用户必须了解STL软件包的方法及所用技术已预先认证。提供的示例说明如何将STL软件包和相关FW(HAL驱动)集成到应用中,最终实现和功能始终应由认证机构从应用层面进行认证。2 i5 G. N* O" v; c& u% N

3 F  t3 L; F+ ?$ v9 l$ X) r! K4 y' t3 m6 R+ o% X

/ I3 D. H. e0 M5 {7 G4 l$ e1 x1 参考文档
- K! @8 C' w( ?) _5 R6 p
# F) H7 N4 n" W5 Q. \- G+ s/ e+ v& E" I
在应用或修改STL栈时,或在开发新栈时,ST提供了多个文件供参考,或根据需求提供完整的测试报告。
% q' |" t* T) }; I! l. ]2 b9 }ST提供了安全手册来描述如何在STM32产品对其他的安全标准进行实现,部分安全手册已经可以下载。还有一部分在准备中。为控制外设或确保针对噪声发射及噪声灵敏度的系统电磁兼容性(EMC)。- j( [5 P, Z! N1 o
关于错误处理技术的更多信息,请参考以下应用笔记:, Y! f7 J& l) Q2 D" k; h$ f
• AN4750 STM32应用内的软件错误处理。& K0 n; g, M/ ?/ j! k
关于更多EMC信息,请参考以下应用笔记:
$ u8 p! M0 m1 F8 I8 A• AN1015 提高微控制器EMC性能的软件技术
9 M" `2 ?1 I# {) m' b• AN1709 EMC设计指南。% s% t+ w7 k  h" u2 M+ L: ?
关于循环冗余校验(CRC)计算的更多详细信息,请参考以下应用笔记:
! c% e3 k7 C6 h) E9 [• AN4187:在STM32系列中采用CRC外设。
5 a2 |2 l: \& Z+ ^* L. w* F, o以下安全手册可从ST官网获得:
- c  W+ `& w, K  M( |% w- b9 k, R* ?• UM1741(适用于F0系列)
) h  m+ t" Q4 Q; k! N- u4 s  X• UM1814(适用于F1系列)' i& k( X) e& K
• UM1845(适用于F2系列)
6 `( Q1 j/ e4 b+ E8 m2 x• UM1846(适用于F3系列)
: Y5 k" o! T: Q8 J% I: y" [0 \• UM1840(适用于F4系列)) ^- p& Q1 j9 D8 K
• UM1813(适用于L1系列)
8 P. R( ]& t& a/ r! i" @  a6 ~. d( S9 W9 H5 U6 f6 c. R- x( o/ F

3 W. d. ^/ Y& y# d" |
3 g( g- S% s. O- i( l2 软件包变化概述
- P8 K4 W8 i' D2 q8 v* y, L7 X: V5 h2 d, ~- b2 q2 ~1 N; x* k0 |
表  1总结了STL软件包及所含的HAL固件。
- H2 k% P: {" C7 y1 T0 k 11.png 5 Y. i0 g# c; z! Z; e
固件采用通用的目录结构。它基于可用的驱动组,专用于给定产品或与特定的HW开发工具相关。部分驱动与整个STM32系列和ST调试有共同之处。( e. g( K) }# F8 V+ s7 l
9 d& O( L( T4 f
表  2详细说明了基础结构,以B类要求为目标的自检程序和方法收集在通用STL栈和产品特定STL栈目录下。根据用户应用HW,其余驱动大多都有特殊用途,以最终用户项目的变更或替代为准。# ~/ @% p  |. K$ u+ d

* r4 k# Z- U0 a, p/ R: Z4 B9 _ 12.png 2 ^; j. D3 Y; [" K$ ]2 U
特定STM32产品及专用评估板的所含项目已准备好,并在三大环境和工具链下进行了测试:
# P! z1 p8 R# Q( q& V• IAR™-EWARM版本 7.80* J2 i9 O5 ^1 n" S
• Keil ® /MDK-ARM ® 版本 5.06$ u0 f) W5 N2 s0 }
• Ac6 Eclipse™ 版本1.8.0) }2 V% o7 @( g0 F

' d6 V6 U4 L  F4 A2 W! L/ u( r& z+ P4 x4 d6 b( S, l& N+ F
表  3 和  表  4分别总结了这些项目的详细结构及STL栈常见和特定部分内所含的文件列表。3 p- `: e: D7 \0 |
表  5列出了示例中所用的附加支持文件。7 d, E* \% Z' r4 y9 Z$ I9 R

' [8 H0 M1 l: n6 D4 N& l9 G
8 k/ c; S( J* { 13.png
9 l' o9 x/ {% L; v. A: U0 Z
* |) @! ^& K, } 15.jpg
2 O% j  c% x' v* c* D" v' M6 m/ }' A' P# ?
3  STL 软件包之间的主要差别(从产品的角度来看)
8 K7 |5 e/ r7 Y5 S# v& n- R3 |3 g3 A+ a% T# }5 D
用户可发现一些小差别,这主要缘于产品的硬件偏差及编译器和调试工具的不兼容性。: u9 O- |. ^8 _& ^; t9 p
本节对主要差别进行了说明,这些差别主要由不同STM32产品之间的兼容性造成, 表  6对此! u) x1 L  b; K+ H6 p( k
进行了总结。3 D* T' M/ L# `

& a- F) ~9 k0 i5 I& Y! K5 I# A! u8 l9 x6 _9 }; Q

2 x' u0 E% A3 E: H  ?4 M* J. F...
) z9 `! Y6 b5 @" d5 m8 _5 \0 X- q$ B5 P. t; Q& S! T; Z5 J, c

# h$ _2 G6 H9 @8 W下载文档,阅读完整资料
; f( _, G  g; R) a( P9 N
" p1 ]2 {3 L% W. t+ l下载地址1>>      下载地址2>>         更多实战经验>>
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