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AN4435:STM32应用中UL/CSA/IEC 60730-1/60335-1的 B类认证获取指南

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zero99 发布时间:2018-11-6 16:07
STM32应用中UL/CSA/IEC 60730-1/60335-1的 B类认证获取指南
6 x- a) q! z5 a' E1 B4 c0 r4 e% k0 ~( f9 X/ M% k( x
前言+ }, q  c+ F( ^% p6 F& a

8 h; i! _* g" t) `# m. s/ r! C安全在电子应用领域起着越来越重要的作用。在电子设计中,组件的安全要求水平不断上升,电子设备制造商将很多新技术解决方案纳入了新组件设计。用于提高安全的软件技术不断涌现。硬件和软件的安全要求相关标准也在持续开发中。
- I; r* A) {9 Y由IEC(国际电工委员会)、UL(美国保险商实验室)及CSA(加拿大标准协会)颁布的全球公认标准指定了当前安全建议和要求,并被TUV及VDE(大部分在欧洲)、UL及CSA(目标市场在美国和加拿大)等机构归入依从性、验证及认证程序。# T9 p4 I  h$ M. P
对于基于STM32 32位ARM ® Cortex ® 微控制器(受这些要求和认证管制)的应用,该应用笔记和相关软件X-CUBE-CLASSB的主要目的是促进和加速用户软件开发及认证程序。- J, F2 e' Q6 {( l4 y% T& O, U
安全软件包(自检库-STL)收集通用的测试组,这些测试组主要用于STM32微控制器的通用逻辑块。STL组基于独特的STM32Cube接口,带有特定的HAL(硬件抽象层)服务和ST发布的专用STM32产品驱动。系列差异被产品特定测试和新增设置所覆盖(如CPU内核、RAM设计、时钟控制)。
9 c- V; u& h4 v. T4 K& P  [5 U用户可将STL软件包和专用HAL驱动连同附加的产品特定测试及设置一起纳入最终用户项目。STL软件包的实现示例可用于主流STM32F0和STM32F3、高性能STM32F2和STM32F4及低功耗STM32L0和STM32L1系列的特定产品。每个例子都包括三个项目(IAR™-EWARM、Keil ® MDK-ARM ® 及Ac6 Eclipse™ 环境和工具链),建立在专用ST评估板上。% x7 V. a7 q3 }5 k# f/ v" w1 C
由于HAL服务统一的Cube接口,STL包的公用部分可重新用于STM32系列的任何其他微控制器。5 Y8 m* l* f6 D
用户必须了解STL软件包的方法及所用技术已预先认证。提供的示例说明如何将STL软件包和相关FW(HAL驱动)集成到应用中,最终实现和功能始终应由认证机构从应用层面进行认证。" R+ x! V7 f2 i9 b2 l; z4 C# w
+ |9 ^# d0 Y. e  ^
+ p% g  H7 H5 P/ ?+ ]+ G
2 v" _# M; O5 |/ v$ T1 E6 D# ]
1 参考文档/ j) p' M. ?4 C3 l% E. a" S: U  r6 C
" X$ _5 B# e" X- D6 F

; N, k6 N1 w7 l4 d* \" Y, j1 F在应用或修改STL栈时,或在开发新栈时,ST提供了多个文件供参考,或根据需求提供完整的测试报告。- l- i1 m( O! |, u( C/ X) y+ N8 }; S
ST提供了安全手册来描述如何在STM32产品对其他的安全标准进行实现,部分安全手册已经可以下载。还有一部分在准备中。为控制外设或确保针对噪声发射及噪声灵敏度的系统电磁兼容性(EMC)。$ `" A1 z+ o1 i2 S
关于错误处理技术的更多信息,请参考以下应用笔记:& K# r2 a7 o3 v$ b& w3 y# N
• AN4750 STM32应用内的软件错误处理。  [1 J) n) z4 _
关于更多EMC信息,请参考以下应用笔记:9 n( _1 D. z! S' D# n, q8 w; H9 q7 x
• AN1015 提高微控制器EMC性能的软件技术
7 q8 x& y, V5 E* Z) z/ A2 X• AN1709 EMC设计指南。, p3 O8 s0 X4 p. Y& q; R, J
关于循环冗余校验(CRC)计算的更多详细信息,请参考以下应用笔记:1 x& L& z! G( Z' r$ H
• AN4187:在STM32系列中采用CRC外设。
0 I3 I& A7 j& T8 x8 }8 x以下安全手册可从ST官网获得:
: v. D4 e: c) l& N, o% ^  [' V• UM1741(适用于F0系列)
+ F# r2 A  W4 l" D/ L• UM1814(适用于F1系列)" c" {. B6 F# C
• UM1845(适用于F2系列)9 l' V) |. H9 q2 [& C. Z
• UM1846(适用于F3系列)
* T# R+ z( S- @7 y2 N9 z: F• UM1840(适用于F4系列)- S- f, N% u6 D8 z
• UM1813(适用于L1系列)
5 x& |7 S1 X$ Y& u4 B3 x
. Q2 M6 Z# A) e
4 c& ^8 b2 H/ ~6 x# c2 s* ^) Q
; `; ?0 [+ ?3 _2 软件包变化概述
" @! }. D8 E$ D# s2 `+ w0 [% g# W/ u2 \) [5 H: l
表  1总结了STL软件包及所含的HAL固件。+ c* _* z9 `) y8 O9 c
11.png   a, ~4 L2 [. Z
固件采用通用的目录结构。它基于可用的驱动组,专用于给定产品或与特定的HW开发工具相关。部分驱动与整个STM32系列和ST调试有共同之处。" i" H' M: s$ t. l& V  O

& E$ g8 T$ R2 ]& b表  2详细说明了基础结构,以B类要求为目标的自检程序和方法收集在通用STL栈和产品特定STL栈目录下。根据用户应用HW,其余驱动大多都有特殊用途,以最终用户项目的变更或替代为准。
, T- o( l  D6 M6 X  y3 T& F) I8 ^) b# C: H3 R( b: g, d) g
12.png
0 i$ }" t. c8 a% {% K$ d2 y特定STM32产品及专用评估板的所含项目已准备好,并在三大环境和工具链下进行了测试:
8 [$ {7 N; ?  I& A• IAR™-EWARM版本 7.80" G# \) T2 _! X
• Keil ® /MDK-ARM ® 版本 5.06
3 a% K& @" g4 V. ~( S9 g! f5 |) ~• Ac6 Eclipse™ 版本1.8.04 B, J; x1 P/ P- h' b9 C8 f

3 y0 }2 O5 Q/ ^- W. w: S- X2 X6 o7 f  _. S
表  3 和  表  4分别总结了这些项目的详细结构及STL栈常见和特定部分内所含的文件列表。
- G2 K- y1 n) o1 @# L) b+ T' ~# c表  5列出了示例中所用的附加支持文件。- a: ]1 }+ ~' J4 }, {; i& _

4 s6 s" E& u5 Q% j4 Y1 d
5 ?9 `  o; c9 M 13.png : ?0 k! T2 A0 Q3 j) M* r
. J* z  j+ q# ^5 D7 k
15.jpg
# O+ g& [- h7 g* B% d1 |" d, }. |- O3 X
3  STL 软件包之间的主要差别(从产品的角度来看)+ i; @' x% m% W3 k0 X

+ m8 M3 ~9 r# [4 m用户可发现一些小差别,这主要缘于产品的硬件偏差及编译器和调试工具的不兼容性。
. T( T( ]$ x+ X  O0 V1 F7 l: ^. C本节对主要差别进行了说明,这些差别主要由不同STM32产品之间的兼容性造成, 表  6对此7 m# f. a) {; l1 k8 k! ~) x
进行了总结。
0 h4 g# I& F, I& g+ c' ?8 Y3 K8 W9 Q6 Q

- [! ~/ V3 f/ j- k9 a2 T. c' p; @
, |! O0 G6 w, m  o! @. S...+ t/ q  y& K7 F1 s

3 `( k! N) n$ ^1 d8 M
$ W0 u% Q) {7 }% x$ E& N5 {下载文档,阅读完整资料# ?2 n- @8 G: S5 q2 X6 O- e

8 l  O/ X( z" F6 [/ g% ]* F下载地址1>>      下载地址2>>         更多实战经验>>
5 [( x0 [- c5 q% M0 W, F
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