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当前设备中使用STM32F103VCT6芯片,程序包含了BOOT和APP两个程序,在做低温测试的时候,遇到了如下问题: 1.如果BOOT初始化时钟的时候,使用LSI和HSE,在APP里面重新配置为LSE和HSE,那么设备在零下10℃的时候重新上电,APP初始化LSE过不去; 2.如果BOOT初始化时钟的时候,使用LSE和HSE,在APP里面重新配置为LSE和HSE,那么设备在零下10℃的时候重新上电,APP初始化LSE是可以过去的; 请教论坛的大咖们是什么问题造成的,如果说是LSE匹配电容问题,那么应该任何情况下都不会成功。 |
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