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MOS开关损耗,计算值和datasheet给定值差异很大,是什么原因

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ioswade 提问时间:2021-6-17 19:47 / 未解决
SCTWA40N120G2AG型号SiC MOS,按照datasheet上给定的条件,按照开关过程计算,Eon约为127uJ,Eoff约为164uJ。开关过程计算方法:Eon=0.5*VDD*ID*(t1+t2),其中t1是门极电压从门槛电压上升到米勒平台时间,t2是米勒平台持续时间;Eoff=0.5*VDD*ID*(t3+t4),其中t3是米勒平台持续时间,t4是门极电压从米勒平台下降到门槛电压时间。
而且从datasheet中给定的下降时间来看,关断损耗也不止datasheet中的Eoff值。
计算值和给定值为什么会有这么大的差异?



收藏 评论1 发布时间:2021-6-17 19:47

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1个回答
子曰好人2号 回答时间:2021-6-23 13:54:51
驱动设计是否按照手册来的?有可能驱动未设计好,损耗增大

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