SCTWA40N120G2AG型号SiC MOS,按照datasheet上给定的条件,按照开关过程计算,Eon约为127uJ,Eoff约为164uJ。开关过程计算方法:Eon=0.5*VDD*ID*(t1+t2),其中t1是门极电压从门槛电压上升到米勒平台时间,t2是米勒平台持续时间;Eoff=0.5*VDD*ID*(t3+t4),其中t3是米勒平台持续时间,t4是门极电压从米勒平台下降到门槛电压时间。 而且从datasheet中给定的下降时间来看,关断损耗也不止datasheet中的Eoff值。 计算值和给定值为什么会有这么大的差异? |
驱动设计是否按照手册来的?有可能驱动未设计好,损耗增大 |
STM32H743做数字电源,HRTIM问题
我从经销商购买了2批,外观这样子是属于正常的吗
请问大佬们,GAN开关管驱动STDRIVEG600,出现某个时刻控制信号少一拍是什么原因导致呢
STD6N95K5 请问IC本体背面有刮痕,会影响使用吗
STD6N95K5 请问IC本体背面有刮痕,会影响使用吗
STD6N95K5 以下图片请帮忙分析是否属于原厂工艺问题?中国产地
STGAP2D的SPICE模型在哪
ST DAPK封装,中国产地外观不一样? 可有官方说明?