
STM32H745启动与烧录问题
stm32H7 LTDC控制器 CLUT模式寄存器配置
STM32H750B-DK 板载STLINK 无程序
STM32CUBEMX最新版本6.14.1出现BUG
nucleo板子自带的stlinkv3坏了咋整
STM32H747 全新板子USB接口,插拔第一次连接的上,之后就再也连接不上。
STM32H747 的USB口,烧录程序就损坏。提示“NO DFU capable USB device available”
开发逆变器进行STM32学习,路径如何规划?
STM32H745IGT6芯片丝印
报一处文档错误
VREF是3.319V,应该没有问题。
ADC改测试VBAT,ADC值是16700左右,VBAT是3.3V,因为内部连到ADC有1/4分压,所以检测VBAT是正常的。我觉得ADC应该是正常的。
疑问在温度检测,通过计算,30度到130度的电压变化是0.2V而已,还有就是规格书中说的两个标定点到底是不是30度到130度。
我尝试降低内部LDO的VOS配置和主频,通过电流表检测5V端电压只有20ma时,检测到的内部温度是50度。这明显不正常。
我觉得要不就是标定有问题,又不就是这个内部温度传感器根本就不是偏差几度,而是偏差相当大。
。 关于STM32内部温度传感器的算式话题 (qq.com)
一般来说芯片内部温度是要高于表面温度的,不过你这温度确实奇怪,检查一下芯片ADC部分的供电