ECC功能开启后,如何验证这个功能是否正常开启呢?
STM32H7系列芯片下的ECC功能如何测试?
H7系列无法配置MPU
STM32H745I-DISCO 下载TouchGFX报找到不FLASH下载算法文件
STM32H7打开DCache后,串口1DMA接受数据位空
STM32H743或者是STM32F767读取NAND时候直接将数据存放到SDRAM中会出错,但是将读取的数据存入到内部IRAM中不会,请问是什么原因导致的。
STM32H7,使用LWIP通信,数据量过大会卡死。
LQFP100 STM32H750的ADC快速通道如何配置最高采样率呢
STM32CubeIDE STM32H743XIH6,串口无法重定向,且发送内容波特率不对乱码
STM32H7,ADC_IRQHandler和ADC3_IRQHandler这两个中断入口函数在使用上有何区别?
VREF是3.319V,应该没有问题。
ADC改测试VBAT,ADC值是16700左右,VBAT是3.3V,因为内部连到ADC有1/4分压,所以检测VBAT是正常的。我觉得ADC应该是正常的。
疑问在温度检测,通过计算,30度到130度的电压变化是0.2V而已,还有就是规格书中说的两个标定点到底是不是30度到130度。
我尝试降低内部LDO的VOS配置和主频,通过电流表检测5V端电压只有20ma时,检测到的内部温度是50度。这明显不正常。
我觉得要不就是标定有问题,又不就是这个内部温度传感器根本就不是偏差几度,而是偏差相当大。
。 关于STM32内部温度传感器的算式话题 (qq.com)
一般来说芯片内部温度是要高于表面温度的,不过你这温度确实奇怪,检查一下芯片ADC部分的供电