1. 概览
现代电子系统中，由于“软”错误引起的系统故障比永久性硬件失效引起的系统故障要更多。“软”错误是指可以恢复的故障或者失效。这一类错误容易发生在寄存器，RAM等上面，由于受到电磁干扰或者封装材料中的α粒子，宇宙射线等的影响产生位值翻转。针对这个问题，可以在硬件上加奇偶校验，ECC 电路来进行检测。
STM32H7 系列 MCU 的 Flash，SRAM 和 CACHE 都支持 ECC 的功能。在本文中，主要介绍 SRAM ECC 这部分功能以及应用中的注意事项。

2. RAMECC 外设
在 STM32H7 系列 MCU 中，有一个叫 RAMECC 的外设，它是一个 RAM ECCMonitor。RAMECC 提供了一个接口给应用程序来检测当前 RAM 的 ECC 状态，以及当发生 ECC 错误后执行相应的恢复或者报错程序。
STM32H7 的 RAM ECC 支持纠正单比特的错误和检测双比特的错误。对于 AXI SRAM和 TCM RAM，每 64 位数据附加 8 位 ECC 码；其他的 32 位总线的 SRAM，每 32 位数据附加 7 位 ECC 码。
在对 SRAM 进行写操作的时候，硬件自动计算并保存 ECC 的值，在对 SRAM 进行读操作或者非对齐的写操作（读-改-写）的时候会自动进行校验，并且出错的地址和数据可以通过寄存器读出。
STM32H7 的 RAM ECC 功能的实现可以分成两个部分：RAM ECC Controller 和 RAMECC Monitor 单元，如下图所示。
图1. RAM ECC Controller 和 RAM ECC Monitor 之间的联系


2.1. ECC Controller
STM32H7 的 SRAM 分成 AXI SRAM，SRAM1，SRAM2，SRAM3，SRAM4，数据TCM RAM，指令 TCM RAM 和备份 SRAM 等几块。每个 RAM 块分别对应一个 ECC Controller。
ECC Controller 始终处于使能状态。它负责 ECC 代码的计算存储，比较和错误检测，可以完成单比特错误纠正和双比特错误检测的功能。


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