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STM32应用中UL/CSA/IEC 60730-1/60335-1的B类认证获取指南

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STMCU小助手 发布时间:2022-12-6 14:41
前言
: z& X& k. q, w  A安全在电子应用领域起着越来越重要的作用。在电子设计中,组件的安全要求水平不断上升,电子设备制造商将很多新技术解决方案纳入了新组件设计。用于提高安全的软件技术不断涌现。硬件和软件的安全要求相关标准也在持续开发中。: U4 {- ?0 T5 n; ~* ^
由IEC(国际电工委员会)、UL(美国保险商实验室)及CSA(加拿大标准协会)颁布的全球公认标准指定了当前安全建议和要求,并被TUV及VDE(大部分在欧洲)、UL及CSA(目标市场在美国和加拿大)等机构归入依从性、验证及认证程序。: [9 G$ M' {( m
对于基于STM32 32位ARM® Cortex® 微控制器(受这些要求和认证管制)的应用,该应用笔记和相关软件X-CUBE-CLASSB的主要目的是促进和加速用户软件开发及认证程序。
安全软件包(自检库-STL)收集通用的测试组,这些测试组主要用于STM32微控制器的通用逻辑块。STL组基于独特的STM32Cube接口,带有特定的HAL(硬件抽象层)服务和ST发布的专用STM32产品驱动。系列差异被产品特定测试和新增设置所覆盖(如CPU内核、RAM设计、时钟控制)。- a/ U% [" N1 q# k' \
用户可将STL软件包和专用HAL驱动连同附加的产品特定测试及设置一起纳入最终用户项目。STL软件包的实现示例可用于主流STM32F0和STM32F3、高性能STM32F2和STM32F4及低功耗STM32L0和STM32L1系列的特定产品。每个例子都包括三个项目(IAR™-EWARM、Keil® MDK-ARM® 及Ac6 Eclipse™ 环境和工具链),建立在专用ST评估板上。
- D& w6 [, B0 s  Q: O由于HAL服务统一的Cube接口,STL包的公用部分可重新用于STM32系列的任何其他微控制器。
  k6 O: M+ m1 j3 u2 e* j2 R4 q用户必须了解STL软件包的方法及所用技术已预先认证。提供的示例说明如何将STL软件包和相关FW(HAL驱动)集成到应用中,最终实现和功能始终应由认证机构从应用层面进行认证。
8 h! v8 c- d0 X) v2 Y# D$ i( q1 v$ N注: 意法半导体正逐步开发可支持新产品的衍生固件。为获得支持和可用示例的最新相关信息,
1 \3 l; O  V, q* W5 c2 ]7 t6 [0 ^7 a请联系您的本地ST销售办事处。& u8 v6 o/ m2 h0 w: e/ q
  W) `; e1 M0 I7 M1 ~" Y6 i
1 参考文档6 x" N* d3 B6 s$ x
在应用或修改STL栈时,或在开发新栈时,ST提供了多个文件供参考,或根据需求提供完整的测试报告。
1 n, b( u3 i( F& Y+ \ST提供了安全手册来描述如何在STM32产品对其他的安全标准进行实现,部分安全手册已经可以下载。还有一部分在准备中。
; E0 L, v6 m2 G, [' h5 a关于错误处理技术的更多信息,请参考以下应用笔记:
) O, p' x6 b/ L& \, C2 u• AN4750 STM32应用内的软件错误处理。
4 g* O* u5 o+ o/ w! F. t  J
关于更多EMC信息,请参考以下应用笔记:
- b+ K0 u" H6 H' M• AN1015 提高微控制器EMC性能的软件技术+ j/ A! \$ A& I
• AN1709 EMC设计指南。( v* z' r3 H' o) m9 l3 S5 E2 _
关于循环冗余校验(CRC)计算的更多详细信息,请参考以下应用笔记:/ n3 Z$ t/ ^7 j! J9 Z5 k: `. u% h; u
• AN4187:在STM32系列中采用CRC外设。
8 m$ `% n, p' h3 W以下安全手册可获得:" U; b0 Y. `( t7 b
• UM1741(适用于F0系列)  Y0 q( `+ |, F3 h+ M2 K
• UM1814(适用于F1系列)1 Y7 x2 Y' r" n+ n* A1 P
• UM1845(适用于F2系列)6 [, q' t; ?( t( k/ `. s" x& K
• UM1846(适用于F3系列)
( _5 K( f6 q) F* c• UM1840(适用于F4系列)
6 ^2 O; s$ d" @# c2 \• UM1813(适用于L1系列)
: E4 y, M% z/ r* {! c0 k* W) e' {- A
2 软件包变化概述
6 u. P( U2 C7 U! b) r
8 Q  U6 |; F. j" \& D2 ^
E4Z1}T7]V4WPEAQ44%D]~9S.png $ F& L, M2 J9 S7 @, o

  L4 [5 D4 G: a: t  V1 ~固件采用通用的目录结构。它基于可用的驱动组,专用于给定产品或与特定的HW开发工具相关。部分驱动与整个STM32系列和ST调试有共同之处。
. W. P  }7 j( k' w表 2详细说明了基础结构,以B类要求为目标的自检程序和方法收集在通用STL栈和产品特定STL栈目录下。根据用户应用HW,其余驱动大多都有特殊用途,以最终用户项目的变更或替代为准。
5 f6 N, }5 h" F/ ]; [
. }' f0 D* y6 D1 E: d0 N
0Z9W@QSVD{8P_U[YK{7@`A0.png
. D8 V- k4 Z1 K& f( q: N& s( t( r% [3 z5 x9 d4 \" Y. b
特定STM32产品及专用评估板的所含项目已准备好,并在三大环境和工具链下进行了测试:3 b4 o0 v! n& b& I: @8 a
• IAR™-EWARM版本 7.80$ u! r7 J6 }* F2 Z' W
• Keil®/MDK-ARM® 版本 5.06
& @! @# J( _% O+ U% q$ g• Ac6 Eclipse™ 版本1.8.0
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3 m  O# O+ ]4 V1 N/ R+ o' B& l N%0]RUUJZ{(U((RRPHCHKYB.png
3 ?  P" b" S; h0 y3 ^
4 K/ D- X4 j1 \) u2 a J33P9$TNOC4J]H)GBMXHUUO.png 7 f$ n3 ]! r- D' L
4 [9 X" x+ h+ V: Q
3 STL软件包之间的主要差别(从产品的角度来看)6 f) y% W* ]- D5 T0 w8 q
用户可发现一些小差别,这主要缘于产品的硬件偏差及编译器和调试工具的不兼容性。* o5 q4 i5 E: l/ L
本节对主要差别进行了说明,这些差别主要由不同STM32产品之间的兼容性造成,表 6对此进行了总结。4 d7 l9 z8 u0 F! H" E7 g
* ?3 s; k* F# t5 o9 o* [1 h; w' b

& T5 v/ m  Q* `% N/ E2 G 5_](D``NBN0N1@BNVKW{UAS.png 9 c3 h$ P3 d! h0 G% Z

3 H! M# I" d  L6 t, U3 }完整版请查看:附件) h) }& u3 N+ R3 G! u* V) W

# e* u$ D8 ?0 T" x& X3 [, Z4 H3 s  \* `! g3 [' u2 W: l
/ B. }: A9 r0 E- ?& c

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