1. 引言
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$ {3 T. R7 |" ?  K; N6 u$ P这个例程是使用 STM32G474 NUCLEO 进行测试的，集合了 DAC， COMP， HRTIM 的功能模块。
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7 W8 S) `" B' O' X! j2. 信号路径  
PA1 的输入信号同 DAC 的输出信号进入 COMP 比较器进行比较，经 COMP 比较后的输出信号连接到 HRTIM 的 Fault4 信号，来控制 HRTIM 的输出信号的停止。


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当 PA1 > DAC value,比较器输出高“1”， 这个信号为 HRTIM 的 fault4 信号，当 HRTIM 配置为 fault4 高有效，则当这个高电平出现时，HRTIM 输出波形停止，具体输出的电平可以通过寄存器进行配置。

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: Q4 H! r; L; H3 r) }, C3. STM32CubeMX 配置
PA1 的输入信号同 DAC 的输出信号进入 COMP 比较器进行比较，经 COMP 比较后的输出信号连接到 HRTIM 的 Fault4 信号，来控制 HRTIM 的输出信号的停止。

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1 l9 ^2 V" p9 {6 o$ X1 p首先配置 DAC 模块，DAC out1 选择 connected to on chip-peripherals, 这里为了测试方便，选择了“Connected to external pin and to on chip-peripherals”，DAC 输出信号连接到 IC内部，同时输出到 PA4 GPIO 口。这样就客户测量 DAC 的具体输出值。
' L: {# }0 v! M( t& E1 y0 e而在 IC 内部，DAC 连接到了 COMP 的负端。
COMP 的配置如下：PA1：COPM 的正向输入端。
! K  l7 I+ l- V9 X2 k6 T# ?DAC1 OUT1 在 IC 内部连接到了 COMP 的负向输入端。
9 @  {2 x: F9 @2 n具体请看下面两种图：


% o6 [4 P% h& ^' \( v完整版请查看：附件 DAC，COMP，HRTIM Fault 功能的使用.pdf (591.84 KB, 下载次数: 909)

2023-2-17 17:32 上传

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请问这种方法是否只支持单比较器关闭PWM输出？我多个比较器时只有其中一个有效。后续改为event+fault多比较器才正常工作。