STMCU小助手
发布时间:2023-2-18 17:00
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1. 引言 这个例程是使用 STM32G474 NUCLEO 进行测试的,集合了 DAC, COMP, HRTIM 的功能模块。- K; v0 m% A4 A% l2 Y5 w2 Z( I/ D 2. 信号路径 ) E8 \5 I' T' @+ ?4 }+ [ PA1 的输入信号同 DAC 的输出信号进入 COMP 比较器进行比较,经 COMP 比较后的输出信号连接到 HRTIM 的 Fault4 信号,来控制 HRTIM 的输出信号的停止。 & H; i+ ]. Q6 e% E
# r# Q; d8 ^9 Z- d 当 PA1 > DAC value,比较器输出高“1”, 这个信号为 HRTIM 的 fault4 信号,当 HRTIM 配置为 fault4 高有效,则当这个高电平出现时,HRTIM 输出波形停止,具体输出的电平可以通过寄存器进行配置。 ) V+ q! n u6 E1 o" k) Y8 N 3. STM32CubeMX 配置8 y3 v z2 U8 \, Z9 k, O3 q PA1 的输入信号同 DAC 的输出信号进入 COMP 比较器进行比较,经 COMP 比较后的输出信号连接到 HRTIM 的 Fault4 信号,来控制 HRTIM 的输出信号的停止。 - a% P5 T4 w. e0 h2 O+ f# l
: [) ~& t5 T$ i5 p A& j/ ? 首先配置 DAC 模块,DAC out1 选择 connected to on chip-peripherals, 这里为了测试方便,选择了“Connected to external pin and to on chip-peripherals”,DAC 输出信号连接到 IC内部,同时输出到 PA4 GPIO 口。这样就客户测量 DAC 的具体输出值。 而在 IC 内部,DAC 连接到了 COMP 的负端。 COMP 的配置如下:PA1:COPM 的正向输入端。1 c( m* @# \/ T7 G# ?7 Y DAC1 OUT1 在 IC 内部连接到了 COMP 的负向输入端。 具体请看下面两种图:; L: D2 _& l# \2 ~ 完整版请查看:附件
DAC,COMP,HRTIM Fault 功能的使用.pdf
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请问这种方法是否只支持单比较器关闭PWM输出?我多个比较器时只有其中一个有效。后续改为event+fault多比较器才正常工作。