
stm32h7在移植f1的库会遇到时序问题吗
STM32CubeIDE1.16.1创建新的STM32工程之后没有自动弹出引脚配置界面
STM32H750 USB HS HOST 加 DCMI 接口不能正常工作
请问hal库的硬件spi,该怎么修改spi时钟的占空比呀?
STM32 CubeIDE的快捷键问题
stm32H745 M4核不能调试和下载
CUBEMX界面汉化有吗?
stm32h745 调试问题
我想实现三对移相PWM(占空比为50%)输出,前两对是互补输出,用了TIM1的CH1/CH1N和CH2/CH2N。第三对用了TIM1的CH3和TIM8的CH2,类似于互补输出。需要以TIM1的CH1/CH1N为参考,其余两对怎样实现占空比不变,相移可调呢?另外TIM8的CH1和CH3的PWM需要输出高电平
stm32cubeide官网账号登录一直显示登录失败,且不能找回密码。
而正常操作改写RAM会同时正常的写入ECC值,基本没机会触发ECC错误。
翻到官方有个例程可以参考一下
STM32Cube_FW_H7_V1.7.0\Projects\NUCLEO-H745ZI-Q\Examples\RAMECC\RAMECC_ErrorCount
另外按照例程RAMECC_ErrorCount可以读取未初始化的区域,但是并不能严格模拟单bit错误的情况,也就导致了下面的问题。
1.想问下STM32官网工程师,是否存在关闭ECC,严格实现单bit和双bit错误的验证,使得可以人为修改某1bit,而后可查看原始数据、经过ECC纠正的数据、以及ECC码
2.flash区ECC功能的验证,是否存在如RAMECC_ErrorCount那样的例程来指导flash区ECC功能的使用。