
STM32H755生成的stm32CubeIde的TouchGFX designer生成代码出错。
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请教SPI用LL读取的问题
而正常操作改写RAM会同时正常的写入ECC值,基本没机会触发ECC错误。
翻到官方有个例程可以参考一下
STM32Cube_FW_H7_V1.7.0\Projects\NUCLEO-H745ZI-Q\Examples\RAMECC\RAMECC_ErrorCount
另外按照例程RAMECC_ErrorCount可以读取未初始化的区域,但是并不能严格模拟单bit错误的情况,也就导致了下面的问题。
1.想问下STM32官网工程师,是否存在关闭ECC,严格实现单bit和双bit错误的验证,使得可以人为修改某1bit,而后可查看原始数据、经过ECC纠正的数据、以及ECC码
2.flash区ECC功能的验证,是否存在如RAMECC_ErrorCount那样的例程来指导flash区ECC功能的使用。