你现在是同一个TIMER，占空比一样，意味着CCR值是一样的。这点请您再确认下代码中的CCR值。 还有，请你认真检查下所有PWM输出复用的GPIO配置，是否都是一样的配置，输出模式，上下拉配置，速率选择。 再就是检查下，与PWM输出相连的外部电路，是否管脚上存在较大电容量差异。
注意一下，配成 opne drain 时，输出的5V是由外部5V电源提供，收到上拉电阻的限制， 因此驱动受限。即有一点电流就会引起一点压降。 另外注意，必须先有VDD ，再连接5V 信号
二者性能相当，均为相同内核的高性能MCU。 二者的总线架构、外设资源及接口基本一样，他们的最大最主要的差别就在于片内FLASH容量。 STM32H750的FLASH容量为128 KB，而STM32H743的片内FLASH在1M~2MB之间，远高于H750的。 相对而言，STM32H750更适合代码空间需求不大的应用场合。 更多小细节可以看下数据手册，比方封装类型的差异。
你是指数据处理相关代码所花时间吧。 这个时间应该从DMA完成中断触发后开始考虑。STM32库代码的里的中断服务程序写的非常丰富，判 断流程也多，你可以基于它做针对性地瘦身，只提取自己关注的标志及判断，最好自己重新组织下代码。 另外具体到你这里用户回调函数，你也要注意代码的执行效率，平常不关注时间时代码啰嗦点，只要能实现 功能倒也罢了，这些时间敏感的地方可能要多琢磨下代码写法，尽量使用运行效率最佳的代码写法。 比方代码里尽量避免函数调用，选择最省时的循环方式。
1、通过Flash编程接口动态写入Flash 运行程序时通过STM32的Flash控制器API（如HAL库的HAL_FLASH_Program）对Flash特定地址进行擦写操作。 需要先解锁Flash写保护，执行擦除（通常是页擦除），然后写入数据，最后重新上锁。 这是对Flash存储器的实时地动态修改，可以在程序运行过程中改变Flash内容。 这个做法灵活，适合支持多次写入和更新Flash内容的场合，相对操作复杂些。 2、通过定义const变量编译时写入Flash 这个做法是在程序编译链接时将数据写入Flash，程序运行时为只读。 可视为静态存储。 这个操作简单方便，无需运行时进行Flash操作。适合存储固定数据， 如查表数据、固件版本号、常量配置等。 一般来讲，这类数据不可在程序运行时更新，往往需要重新编译和烧录才能改变数据。
显示方法：touchgfx::Unicode::fromUTF8((const uint8_t *)str, textArea1Buffer, TEXTAREA1_SIZE); textArea1.invalidate(); 我第一次显示“你好”，第二次改为“他好”。刷新出来的还是“你好”。 想要刷新为“他好”，就要先把“ ”显示一遍，然后在刷新“他好”就能显示成功。
检查一下连接是否正确，再看看通讯波形是否有异常。 一共就四根线，可以都量测一下。 然后用cubeprogrammer 连接看一下。 也可以交叉验证，用V3去接另一块板看看。
不知你具体使用什么型号，不用搞得那么复杂。 使用CUBEMX配置，在Trace & debug 那里的debug选择serial wire即可， 这时只用到PA13 PA14两个脚用于调试烧录。使用cubeMx创建工程后，代码里 无须再针对调试脚做什么额外操作。 先保证板子硬件没问题，重点是电源方面。然后测试下最基础的GPIO翻转，让芯片工作可控，然后调试SPI功能。
谢谢你的建议，我抓取了I2C数据发现确实在初始化过程中有问题，某个寄存器的读取一直是0，导致与期待值不符，反复读取后timeout了，但程序并未处理这个错误的返回状态，才会继续往后执行。
给些参考建议： 1、先拔掉调试器、断电开发板，检查硬件连接，重新上电试试。 2、在 STM32CubeProgrammer 的连接设置中，尝试切换复位模式，比方Hardware reset、Core reset）。 3、降低连接速度（如 4000 kHz 或更低），避免高速通信不稳定而导致的问题。 4、可以尝试通过STM32CubeProgrammer对STLINK做下固件升级，当然前提是硬件连接OK。 5、芯片是否有做读保护或其它需要调式认证的环节（不过，这点只是针对个别STM32系列，比方STM32H7R/S). 6、如果真是STLINK坏了，可能得想办法搞个新的。
这么说问题就太宽泛了。 这涉及硬件、软件、参数配置、调试等多个方面，具体原因可能非常多样化。 硬件层面：电源、接线、传感器、驱动器等任何一个环节出现问题都可能导致电机无法启动。 软件层面：参数配置错误、控制算法未正确执行、外设初始化失败等都会影响启动。 明确具体现象：电机完全无反应？有转动但不稳定？有异常报警？ 硬件检查（电源、接线、传感器信号） 软件初始化（外设是否正常启动） 控制环路（PWM输出、电流采样） 保护状态（是否触发保护） 。。。。。 我这边了解到调试时电机不启动比较常见的原因比方有： 硬件上比如PWM波没正常给出驱动，缺相等； 软件上启动电流不够， 角度错误等，
ST25R3911B中，0x00寄存器中的osc位应当选择外部晶振的实际频率，例如板子上是27.12MHz晶体，则寄存器中应选择1(27.12MHz)。为了获得更好的性能，相较于13.56MHz的晶振更推荐使用27.12MHz的晶振。 对于软件移植，建议完整移植参考代码，移植完成调用demoIni()以及demoCycle()即可。 关于晶振硬件部分，ST25R3911B本身没有特别要求，可以重点排查晶体的规格书以及电容选择。
使用的是type c接口，实际是USB-A转USB-c,使用的是USB2.0的协议，正常情况下，cc脚是不用接也行，我知道typec 对typec需要下拉电阻用作typec受电端。目前怀疑是差分线过长的问题，之前又画了一版，缩短差分线，严格控制等长，看看效果。 之前是同个typec母座对应ch340和MCU USB，用0Ω电阻做选择，只控制了从选择电阻到MCU USB的的等长，没有控制母座到选择电阻的等长，有可能几十mil不等长引起的也不是没可能，当然也有说阻抗不匹配也会导致该问题。
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