|
使用 STM32F407ZET6 TIME1 CHI、CH1N和TIME8 CH2 CH2N，产生四路驱动，提供给全桥逆变，PWM频率为85kHz，死区时间为300ns。 在应用中出现如下问题：1）PWM频率存在周期性微小跳变，如正常PWM波形，周期为11.76us，高电平时间为5.88us，系统长期运行时，在某些时刻呈周期性或偶发性，高电平时间从5.88us增加约300sn，变成了6.2us，或减小为5.5us，从而诱发系统异常；2）在特殊工况下，PWM存在漏波的情况，如高电平持续时间达到了19us。上述两种情况出现后，在几个周期内又恢复正常，正常工作一段时间后复发。 在反复测试中，可以明确以下几点：1）该异常受AD采样口影响，当断开所有采样后，该异常不会出现；2）在AD采样口增加使用隔离放大器或增加EMI滤波器时，情况有所改善，但不会根除；3）使用系统其它IO口固定频率如1kHz的波形，在出现漏波时，如高电平从5.88us持续到19us，该IO口高电平也会从500us持续到1500us左右，同步异常。 晶振从无源晶振改为有源晶振，无改善，晶振频率为25MHz。 该问题至今未彻底解决，大家看下可能的原因？或者是ARM系列在大功率电源上应用时，抗干扰能力不足，需要做特殊处理，提高抗干扰能力？ (20230314 波形补充，如下：负压持续时间增大了约3倍，正压持续时间约2倍，几个周期后恢复正常。
|
STM32多通道FFT运算异常
串口重定向接收不同
关于三轴陀螺仪 I3G4250D
STM32MP135D的TIM2使用ETR作为外部时钟时，无法使用PE15作为输入
经过光耦之后，脉冲计数功能为啥不能实现？
STM32F407 ADC Dual regular simultaneous only 模式下最高采样率仅 96 kHz，960 kHz 无法工作，求助！
STM32 F407骄阳电机版用DMA双缓存接收串口数据时，上电第一次接收区是memory1而不是memory0?
STM32F407骄阳版用DMA双缓存区接收串口数据，上电第一次接收到的数据在memory1而不是memory0
stm32f407无法配置定时器2为全部dma
FreeRTOS问题求解
微信公众号
手机版
)
不妨你只对内部某些信号进行ADC采样，看看是否还会发生ADC采样影响PWM输出的情形？
建议测试一下PWM，固定占空比（比较寄存器的值）试试，看看是不是波形会变化。
楼主您好，关闭AD采样是断开外部的输入还是关闭AD的中断。AD是DMA采集还是普通的中断采集？考虑一下AD中断后，是不是中断时间处理太长，导致PWM中断延时，可以考虑采用抢占式中断，把AD中断级别调到比PWM低一些试试。
AD采样的是电压信号，电压在0.3~3V之间。
CT电流传感器（绝缘电压5000V）输出经整流滤波电路变成直流电压，经过隔离运放器后，差分放大，进入控制板AD口。
407所在控制板的地、功率地是隔离的。
如果从差分输入那里断开，407不受干扰的。实际输入加共模电路、或采样隔离运放，可以改善，但不能完全消除，在某些工况下还是会发生。
现在的PWM是固定占空比的，程序没有进行调节，也没有外部事件触发。
[md]关闭AD采样 是把差分运放输入处断开，硬件断开，程序还是正常运行。现在的采样都是用的DMA，没有用到中断。
还是建议用最简单的独立单纯的固定周期PWM和ADC功能的软件去试一下。
应用软件中如果不小心配置了刹车等额外功能，不用单纯软件去实验是没法高效排除这类因素的。
如果是硬件问题，具体可能是哪些方面呢？噪声随着采样进入AD口，经过时间累积后，导致407内部驱动异常？
软件因素基本可以排除。有其他产品用的是同一套代码，功率小一些，几年了都没出这个问题。
1. 采用内部HSI 验证一下稳定性，看看是不是外部时钟线路吸收到的干扰，
2. AD通道口增加阻抗，同时软件增大采样时间。
外部的干扰信号不好测量，最方便的方式就是反向验证一下了。
打脉冲干扰群测试，发现干扰加在芯片的模拟地，或者AD输入口，问题就会复现。具体是怎么影响到PWM频率还不清楚，现在就是采样加隔离+共模，有一定改善。