
6.28周六签到打卡
uboot初始化IIC1,跳转到应用程序中后,先读一字节AT24C04的数据,然后初始化IIC1(未复位),再读一字节AT24C04时,有概率一直检测到IIC处于busy状态。
STM32F407的flash读写问题
keil调试阶段无法进行仿真,能进到仿真界面,但是无法执行程序,这个怎么解决?
foc2.0函数SVPWM_3ShuntCalcDutyCycles看不明白
请问有stm32f103驱动无刷电机的学习资料吗,找了很久都没有找到
STM32F4的IO口5V容忍问题
询问STM32F407两种USB可以实现的功能
TOF传感器(VL53L5),无法得到data ready
STM32F103RET6 FLASH擦除失败问题
F1系列基于页擦除,在1颗芯片里其空间大小固定,或者1K 或者2k。
而F40X基于扇区擦除,扇区容量较大,而且同一芯片里的不同扇区
对应的容量还不一样,对应的擦除时间也不一样。
比方16K扇区的典型擦除时间为230ms,32K扇区的典型擦除时间是490ms,64K扇区的
典型擦除时间为875ms。128k扇区的典型擦除时间达1.3s.这些参数在芯片数据手册里
都有明确描述。
至于不同扇区的大小在芯片参考手册里也有明确描述。在Flash module
organization有清晰介绍。
至于擦除方式,没有什么好担心的。用什么系列就使用什么擦除方式,比方你现在使
用F407就使用扇区擦除作为基本擦除方式。不过 要提醒的是,如果使用双BANK模式的
话,在给扇区别编号时别给错了。在前面提到的Flash module organization 章节也有介绍。