STM32F75xxx 和 STM32F74xxx基于 ARM 内核的 32 位高级 MCU

前言

本参考手册面向应用开发人员， 提供有关使用 STM32F75xxx 和 STM32F74xxx 微控制器存储器与外设的完整信息。

STM32F75xxx 和 STM32F74xxx 构成一个微控制器系列，各产品具有不同的存储器大小、封装和外设。

有关订购信息以及器件的机械与电气特性，请参见数据手册。

有关带 FPU 的 ARM® Cortex®-M7 内核的信息，请参见带 FPU 的 Cortex®-M7 技术参考手册。

相关文档

意法半导体网站 www.st.com 提供以下文档：

STM32F75xxx 和 STM32F74xxx数据手册

1 文档约定

1.1 寄存器相关缩写词列表

寄存器说明中使用以下缩写词：

读/写 (rw)             软件可以读写这些位。
只读 (r)                软件只能读取这些位。
只写 (w)               软件只能写入该位。读取该位时将返回复位值。
读取/清零(rc_w1)软件可以读取该位，也可以通过写入 1 将该位清零。写入“0”对该位的值无影响。
读取/清零(rc_w0)软件可以读取该位，也可以通过写入 0 将该位清零。写入“1”对该位的值无影响。
读取/读取清零(rc_r)软件可以读取该位。读取该位时，将自动清零。写入“0”对该位的值无影响。
读取/置位 (rs)          软件可以读取该位，也可将其置 1。写入“0”对该位的值无影响。
保留 (Res.)             保留位，必须保持复位值。

1.2 词汇表

本节简要介绍本文档中所用首字母缩略词和缩写词的定义：
CPU 内核集成了两个调试端口：
– JTAG 调试端口 (JTAG-DP) 提供基于联合测试工作组 (JTAG) 协议的 5 引脚标准接口。
– SWD 调试端口 (SWD-DP) 提供基于串行线调试 (SWD) 协议的 2 引脚（时钟和数据）接口。
   有关 JTAG 和 SWD 协议的信息，请参见《Cortex®-M7 技术参考手册》。
字：32 位数据。
半字：16 位数据。
字节：8 位数据。
双字：64 位数据。
IAP（在应用中编程）：IAP 是指可以在用户程序运行期间对微控制器的 Flash 进行重新编程。
ICP（在线编程）：ICP 是指可以在器件安装于用户应用电路板上时使用 JTAG 协议、SWD 协议或自举程序对微控制器的 Flash 进行编程。
选项字节：存储于 Flash 中的产品配置位。
AHB：高级高性能总线。
AHBS：AHB 从总线。
AXIM：AXI 主控总线。
ITCM：指令紧密耦合存储器。
DTCM：数据紧密耦合存储器。
CPU：指带 FPU 的 Cortex®-M7 内核。

1.3 外设可用性
有关各型号产品的外设可用性及数量信息，请参见特殊器件数据手册。

2 系统和存储器概述

2.1 系统架构

主系统架构基于 2 个子系统：

• 一个 AXI 转 multi-AHB 总线桥，用于将 AXI4 协议转换为 AHB-Lite 协议：
  

      – 一个连接到内嵌 flash 的 AXI 转 64 位 AHB 总线桥
      – 3 个连接到 AHB 总线矩阵的 AXI 转 32 位 AHB 总线桥

• 一个 multi-AHB 总线矩阵
  

..............

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