1. 问题描述
客户反馈在使用 STM32F446 的产品做上电、掉电测试时，RTC 会意外恢复到配置的初始值。
2. 问题分析及解决
通过与客户邮件沟通，了解到客户的 VBAT 引脚上有独立的电池供电，在代码中当第一次启动时会检查备份寄存器中保留的一个标志，如果是第一次运行，则会设置 RTC 的初始化，包含年月日时分秒，如果不是，则跳过，后面只读取 RTC 内的时间信息，并不再修改。
为了使用统一的参考物，先建议客户使用 Cube 库下的官方示例代码：
STM32Cube_FW_F4_V1.25.0\Projects\STM32F446ZE-Nucleo\Examples\RTC\RTC_Calendar, 此代码刚好可以针对此问题进行分析。 客户使用此示例代码测试问题依旧。
查看示例代码，为了排除 HSE 与 LSE 的影响，建议客户将 HSE 改为 HSI, LSE 改为 LSI，这样一来，完全跟板上高速晶振无关，跟 32.768K 的低速也无关。客户使用修改后的代码问题依旧。
查看相关代码：

1. /*##-2- Check if Data stored in BackUp register1: No Need to reconfigure RTC#*/
   
2. /* Read the BackUp Register 1 Data */
   
3. if(HAL_RTCEx_BKUPRead(&RtcHandle, RTC_BKP_DR1) != 0x32F2)
   
4. {
   
5. /* Configure RTC Calendar */
   
6. RTC_CalendarConfig();
   
7. }

复制代码

如上面代码所示，每次上电后会读取 BKP_DR1 的值，判断是否为第一次启动，如果是，则配置 RTC。换句话说，出现问题时，这个判断肯定出现问题，导致重复配置 RTC，也就是备份寄存器的值丢失！是什么原因导致备份寄存器的值丢失呢？
同时我这边在 NUCLEO 板上尝试重现客户的问题，但无论如何尝试都无法重现，现在两边所使用的测试软件一模一样，只是各自的硬件平台有所差异，看来就是这个硬件上的差异带来的问题。于是下一步比较客户的硬件与 NUCLEO 板有何不同。
首先怀疑是 VBAT 引脚。要是 VBAT 再现异常，RTC 重新配置就很正常，但客户的 VBAT真的会出现问题么？下面是客户 VBAT 引脚的相关电路：




如上图所示，客户 VBAT 外部接一电池，当 VDD 有电时，VDD 将将电池充电，当 VDD 掉电时，电池给 RTC 供电。于是向客户提出 VBAT 的在掉电上电测试过程中的波形：




如上图所示，VBAT 引脚的波形，在电源掉电上电的过程中并没有出现掉电的情况，也就是说，RTC 擁有穩定的电源供应。为了避免 VBAT 的影响，要客户干脆将 R8 这个电阻去掉再测试， 结果问题依旧存在。


完整版请查看：附件