编译软件：MDK5.38a，调试器使用板载的ST-linkV3

硬件介绍：5K的精密电阻

前言：在原项目基础在调试ADC检测功能。

ADC是指模/数转换器或者模拟/数字转换器。是指将连续变量的模拟信号转换为离散的数字信号的器件。简单来说就是将外部检测的电压信号通过内部ADC检测为数字信号。

这里我是用的是ADC1，引脚使用PA1引脚，cube软件配置过程如下：

基本的软件编写思路：

l 首先开启PA口时钟和ADC1时钟，设置PA1为模拟输入模式，否则AD不能正常读数

l 程序开启之前复位ADC1，同时设置ADC1分频因子和ADC的位数等相关信息。

l 初始化ADC1参数，配置规则通道参数：

l 开启软件转换：

l 等待转换完成，读取ADC值。

其中初始化部分由CUBE软件自动生成，这里就不做过多的介绍，简单的介绍一下，在主程序中如何编写；

其中软件主要是使用复用printf输出调试信息，这里就不做介绍。

主程序软件代码如下：

if (HAL_ADC_PollForConversion(&hadc1, 10) != HAL_OK)

{

Error_Handler();

}

uiADCVALUE = HAL_ADC_GetValue(&hadc1);



uiADCVOLTAGE = __HAL_ADC_CALC_DIFF_DATA_TO_VOLTAGE(3300, uiADCVALUE,        ADC_RESOLUTION_12B);

// HAL_UART_Transmit(&huart2, (uint8_t *)&uhADCxConvertedData, 1, 0xFFFF);

printf("\r\nADC CH1 uiADCVALUE: = %4d \t\r\n", uiADCVALUE);

      printf("\r\nADC CH1 uiADCVOLTAGE: = %4d  \t\r\n", uiADCVOLTAGE);

HAL_Delay(500) ;

这里我使用的是5K的电位器进行模拟ADC的电压输入变化，调节电位器的旋钮，可以看到单片机检测到的AD数据从小到达均匀变化。