最近在评估STM32H743的ADC性能，在测试有效位(ENOB)的时候发现，开启和关闭ADC的线性校准对性能测试的结果并没有影响。有没有遇到过这个问题的大神，请求解答一下，H743的ADC的线性校准是否起作用，该怎么确认有没有起作用？

在开启和关闭ADC线性校准的时候调用了下面一句话：

if (HAL_ADCEx_Calibration_Start(&AdcHandle, ADC_CALIB_OFFSET_LINEARITY, ADC_DIFFERENTIAL_ENDED) != HAL_OK) { Error_Handler(); }

可以确认的是，开启线性校准后，ADC_CALFACT2寄存器是有校准码的；如果不开校准，该寄存器值读出来是全0.

STM32H743 的线性校准（CAL2）在绝大多数量产批次里确实“写了系数 ≠ 立刻看到 ENOB 提升”，这是目前论坛和实测里被反复验证的现象，原因可以归结为 3 点：

1. 线性校准只能修正 INL 曲线里“可建模”的那一段 ，而 H743 的 INL 典型值已经做到 ±1 LSB 量级

   ，再修也只剩 0.1~0.2 LSB 的量，换算成 ENOB 不到 0.05 bit，自然被噪声淹没。

2. CAL2 系数只在 “差分模式” 下生效；如果你接的是单端信号，或者差分负端没有精确共模，校准路径实际被旁路。

3. 校准完必须 重新触发一次 ADEN=1 的转换序列 ，否则系数仍躺在 CALFACT2 里而未被采样开关真正加载 。

快速验证它“到底有没有干活”的办法：

• 用慢速三角波（10 Hz 左右，INL 测试经典做法）做码密度直方图： – 先跑 65536 点，不开 CAL2，记下 INL_1。 – 再跑 65536 点，开启 CAL2 并软复位 ADC 后重新采样，得 INL_2。 – 如果 |INL_2| 比 |INL_1| 小 0.3 LSB 以上，说明线性校准已生效；差别 <0.1 LSB 就基本算“没肉眼可见收益”。
• 或者直接把 ADC 配置成 差分输入、16× 硬件过采样、右对齐 16 bit 模式，用精密源给 0.8 V 和 2.2 V 两个 DC 电平，各采 1 k 点算均值： – 不开 CAL2 记 V1、V2； – 开 CAL2 后重新上电再测得 V1′、V2′； – 若两点误差都从几个 mV 掉到 1 mV 以内，也能确认线性段被修正。

一句话：H743 的线性校准 确实写了寄存器就生效 ，只是它只能把已经很好的 INL 再修 0.1~0.2 LSB，对 ENOB 的贡献被 11~12 bit 的噪声底直接淹没，所以看不出变化属正常现象；真想“看见”它干活，只能用上述静态 INL/DC 误差法，而不是 FFT 测 ENOB。

从一些资料上看，ADC的线性和偏移误差与有效位【ENOB】没有直接的关系。