前言 某客户OEM的一款基于STM32F415RG的产品时，发现RTC电池消耗异常，在VDD处于供电状态下测试VBAT引脚仍然存在24uA的消耗，造成VBAT域电池寿命缩短。

问题调研及症状 到客户现场进行调研后，该款产品客户只负责OEM硬件，并不负责软件。因此，对于此问题仅能从硬件原理图和PCB进行分析，RTC部分原理图如下图所示。

客户使用万用表串接到TP36处，在断开VDD和VDD正常供电的情况下分别测试VBAT引脚的电流消耗，现场进行了测试演示。

奇怪的现象发生了，VDD断电时VBAT引脚消耗电流为0.2uA，当VDD正常供电时反而VBAT引脚电流竟然是24.2uA。

问题分析与解决办法 理论上当VDD上电时STM32内部的电源监测电路会自动将VBAT域切换到VDD不会产生消耗才对，但是实际测试情况为什么电流消耗反而更高呢 ?

笔者尝试写了一个RTC的单元测试demo来复现此问题，但是运行笔者写的RTC测试程序时VBAT引脚无论VDD处于断电还是正常供电其电流消耗均是正常的。

由于MCU的软件并不是由客户开发的，也不清楚具体的外设配置和相关业务逻辑。此问题进度一度陷入停滞状态，只能确定问题的根因是由客户软件缺陷造成。 在思索的过程中，笔者突然想到STM32Cubeprogrammer的hot plug连接模式，可以在MCU正常运行时不复位线热连接，从而查看到相关外设的寄存器。

经过大量的寄存器比对和筛选，排查与VBAT相关的外设，最终把怀疑对象缩小到ADC上，在STM32Cubeprogrammer 的ADC寄存器窗口可以看到，软件使能了ADC_CH18采样，而ADC_CH18是ADC的一个内部采样通道，可以连接到VBAT引脚对其进行采样。

在STM32Cubeprogrammer里面将ADC1关闭，此时VBAT引脚上的电流消耗恢复正常。

结论： 在VDD正常供电时VBAT引脚上的电流消耗是由于开启了ADC_CH18引起，ADC_CH18在对VBAT引脚进行电压监测时所产生的消耗。