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具体现象如下,所用芯片是stm32f103c8t6 主要做电源的控制功能,其中有电压信号电流信号和水流信号3路采样,用的是stm32自带的adc,采用的是DMA转换方式,然后在100us定时器里面定时读取采样值,现象出现的问题是,设备正常运行时,采样数据都正常,出现打火现象后,触摸屏显示的数据就不动了,(这里排除触摸屏数据读取问题,同时有其他数据是在正常刷新的),这个时候系统还能正常进行开关机、和输出调节控制,唯独就是ADC采样值不变了,实际检测送到AD口的采样电压是正常变化的 |
STM32F407VET6 能适配哪些FATFS版本文件
STM32H7A3VGTA QSPI读W25Q128J DMA模式不能工作
Error in final launch sequence: Failed to execute MI command: target remote localhost:61234
//STM32H7A3VGT6 QSPI的DMA方式无法正常工作
STM32H743内部温度传感器读数错误
基于STM32F103的HAL库实现USB(HID) OTA升级
HAL_TIM_IC_Start_DMA的回调函数是HAL_TIM_IC_CaptureCpltCallback吗?为什么进不去?
STM32F103C8T6单片机通过PA4、PA5、PB10、PB11接口与单个74HC595D连接,然后通过CAN发报0x87,74HC595D输出脚Q1和Q5是常高电平,但连接多个74HC595D时,Q1和Q5波形不正常,为什么会出现方波?
STM32G473RC timer8的CCDS bit, Capture/Compare DMA selection.
STM32H7+SAI+DMA双缓冲配置失败.
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单片机说有的输入输出口其实都加个隔离措施的,AD采样时用的隔离变送器转换的,到采样口也加了二极管嵌位,其他IO输出都用的光耦隔离,通信也是用的隔离模块;我们是做高频高压电源的,干扰这块也确实遇到过,之前都是直接单片机死机,向这种其他功能正常,然后AD模块数据值不转换就感觉理解不了
因为我们对采样进度要求不高,ADC的基准电压直接用的内部3.3V,这个供电和外部其他的供电都是隔离开的,单片机所有的输入输出也都经过隔离处理的,不过确实有几个悬空的口没有处理;您说的逐次型比较采样我也了解过,我理解如果某个口出现干扰导致数据不对也就算了,现在是一旦出现这种现象是3个采样口数据值都不变了
好的,感谢
另外朋友的经验:如果数字地和模拟地比较分开走,在外界强大干扰下,两个地线间引起很大的压差会严重影响ADC工作。建议参考一下哈。