
具体现象如下,所用芯片是stm32f103c8t6 主要做电源的控制功能,其中有电压信号电流信号和水流信号3路采样,用的是stm32自带的adc,采用的是DMA转换方式,然后在100us定时器里面定时读取采样值,现象出现的问题是,设备正常运行时,采样数据都正常,出现打火现象后,触摸屏显示的数据就不动了,(这里排除触摸屏数据读取问题,同时有其他数据是在正常刷新的),这个时候系统还能正常进行开关机、和输出调节控制,唯独就是ADC采样值不变了,实际检测送到AD口的采样电压是正常变化的 |
如何鉴别芯片的进口版本和国产版本
cudeide执行run是烧录还是只是执行呢
定时器使用DMA突发传输功能时,传入指针从常量数组改为变量数组后,传输功能异常。测试官方用例一样,是何原因?
cubeIDE在run后出现错误
STM32U3 IIC通信后,SPI+GPDMA 进入循环发送,DMA无法使能 寄存器USEF=1
分享一个PWM+DMA的BUG
F103RCT6芯片对AFIO->MAPR寄存器写入时出错
STM32的TIM触发SPI的DMA发送使用NSS时MSSI的问题
基于STM32F103的HAL库实现USB(HID) OTA升级
使用CubeMX选择芯片生成项目时如何选择外部晶振?
单片机说有的输入输出口其实都加个隔离措施的,AD采样时用的隔离变送器转换的,到采样口也加了二极管嵌位,其他IO输出都用的光耦隔离,通信也是用的隔离模块;我们是做高频高压电源的,干扰这块也确实遇到过,之前都是直接单片机死机,向这种其他功能正常,然后AD模块数据值不转换就感觉理解不了
因为我们对采样进度要求不高,ADC的基准电压直接用的内部3.3V,这个供电和外部其他的供电都是隔离开的,单片机所有的输入输出也都经过隔离处理的,不过确实有几个悬空的口没有处理;您说的逐次型比较采样我也了解过,我理解如果某个口出现干扰导致数据不对也就算了,现在是一旦出现这种现象是3个采样口数据值都不变了
好的,感谢
另外朋友的经验:如果数字地和模拟地比较分开走,在外界强大干扰下,两个地线间引起很大的压差会严重影响ADC工作。建议参考一下哈。