H743用三个ADC转换器,每个转换器转换4个通道,总共12个通道,数据ADC转换是通过tim3来驱动(5000HZ),数通过网络上传到电脑图形显示12条曲线,慢慢旋转传感器发现再32768附近有突变,现象就像这一区域的模拟数据值无法转换成ADC值(32585-32767),这样的区域在真个ADC转换范围并不唯一,而且同一个芯片,三个ADC有的缺失,而有的没有,zhi要通道在一个ADC上的缺失范围是一样的,可以肯定缺失就是由ADC转换时引起的,后我将12个探头用同样的板子测试,发现不同的板子上每个ADC缺失范围是不定的,有的正常,有的缺失ADC转换值,每个H743不一样,我用电位器分压,但是电阻输出信号噪声大,无法出现这种现象,不知道谁在使用过程中遇到过这种问题吗? |
STM32H7系列芯片下的ECC功能如何测试?
H750/743 VREFBUF配置问题
STM32H745I-DISCO 下载TouchGFX报找到不FLASH下载算法文件
H7系列无法配置MPU
ECC功能开启后,如何验证这个功能是否正常开启呢?
STM32H7打开DCache后,串口1DMA接受数据位空
STM32H743或者是STM32F767读取NAND时候直接将数据存放到SDRAM中会出错,但是将读取的数据存入到内部IRAM中不会,请问是什么原因导致的。
STM32H7,使用LWIP通信,数据量过大会卡死。
LQFP100 STM32H750的ADC快速通道如何配置最高采样率呢
STM32CubeIDE STM32H743XIH6,串口无法重定向,且发送内容波特率不对乱码
你可以测试下传感器此时的输出到到底是多少,即看看这个输出情况怎么样。
另外,你说的ADC结果缺失又是怎么回事呢?还是指这个32768附件吗?同时你又说这
个缺失范围是不定的。
建议先用1个模块的一个通道,看看能否全量程正确转换。即先确定硬件方面
的原因,然后再考虑软件相关方面的原因。
非常感谢就是这样,HAL_ADCEx_Calibration_Start(&hadc1,ADC_CALIB_OFFSET_LINEARITY,ADC_SINGLE_ENDED
0-3.3V因该对应0-65535,但实际有一部分无法转换,最后结果0-0x3FFF,0x4182-0xFFFF。0x3FFF-0X4182是没有输出的,而且有的ADC不止这一个区域无法转换,每个无法转换的区域大小也不相同
原来做校准了,好像小时了,后来这几批片子,同样的代码,还是会出现这种问题