一、问题描述

8 g. t: r: `( T8 c/ c        在使用STM32内部FLASH时，发现有一次在读FLASH内容时直接就进入了HardFault，因为读内部FLASH是直接操作的内存，很简单的一句话，怎么也想不通是什么原因导致的。

6 ?6 H  u, w* B& F* Z. |        然后调试模式下，用Keil直接看存储器的值，发现不是全A就是？号，这就确定应该是FLASH出了问题，然后擦除出问题的扇区就发现读取不会在进HardFault的。
* ^$ [! m! }% R1 |
5 S. H5 {$ v7 K! F        通过读STM32H7的手册发现，H7系列和其他系列的FLASH不同，增加了ECC校验的功能，同时有状态寄存器会报一些错误，然后调试模式看状态寄存器，果然有错误，应该是在掉电时擦写FLASH，导致ECC校验出错。
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二、处理
2 y* d' N/ c3 G" h; _5 z/ R: {" R
  B$ Q% q& V) M1 `* P* v. D1.打开FLASH的中断，记住一定要解锁，否则不生效，这块就困扰了很久，最后发现是没有解锁导致的。
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1.     HAL_FLASH_Unlock();             //解锁
   ' K2 @+ L% |3 {( c2 X7 i6 {5 V! \0 k
2.     __HAL_FLASH_ENABLE_IT_BANK2(FLASH_IT_ALL_BANK2);
   * t9 j: q# Y! m7 d3 b
3.     HAL_NVIC_SetPriority(FLASH_IRQn,0,0);
   
4.     HAL_NVIC_EnableIRQ(FLASH_IRQn);
   . Y) |6 ?4 L# n/ [
5.     HAL_FLASH_Lock();           //上锁

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' i5 U$ p& H; x2.中断里擦除掉出错的扇区
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$ q2 z8 E5 N! o5 s# F$ m; pFLASH_ErrorPro();是我自己写的出错处理，里面就是擦除出错扇区的处理，读取的哪个扇区地址出错了，就记录下对应的地址，然后中断里擦除即可。因为断电导致FLASH编程未完成，保留里面的数据意义也不大，所以擦掉即可。

1. void FLASH_IRQHandler(void)
   * J& m( m: d6 x& L; @4 q; s! w- L
2. {
   0 u5 o2 R6 Q2 Q
3.       HAL_FLASH_IRQHandler();
   5 T/ O( {  j* F2 O! ?4 c) b
4.         FLASH_ErrorPro();
   ( H3 \* q7 ~) }! p0 H5 J8 J
5. }

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