1. 问题现象

6 ]+ S9 R( R  c/ P# l+ Z3 ?, u客户使用 STM32H750VBT6，通过 QSPI 外扩了一个 4M 的 NOR FLASH，采用memory map 模式。当程序跳转运行到外设 FLASH 后，大约两个小时后程序死机。
2 {4 I5 m0 x5 n$ {客户使用的 IDE 是 KEIL，此问题可以固定重现。 在 KEIL 调试模式下重现问题时，通过多次观察发现，程序死的位置总体上会停在两个位置，并不是同一个位置。一个是 TIM15函数的入口；另一个是进入中断函数后的一个赋值语句。

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7 \& Y" h- N& ^% S2 o& U2. 问题分析及测试
通过拜访客户，观察到死机位置处于即将进入 TIM15 中断入口处，但还未进入之时。查看客户的原理图，发现两个 VCAP 并未从外部相连，于是要求客户直接从外部将此两个引脚飞线短连。 但是，后来经测试问题仍然重现。
4 l# {7 U5 @7 @2 y' y7 T& O又观察到 PC13 连接为 GPIO 输出引脚，用于驱动一外部组件。 考虑到备份域相关的一些引脚其驱动能力相对弱一些，于是让客户将 PC13 引脚断开后再测试，结果问题仍然重现。
上面是一些硬件相关的怀疑点，经测试结果来看，与此问题无关。 看来主要可能还是软件方面的问题。
在软件上确定客户已经打开了 IO 补偿功能，但 IO 速度设置的是 HIGH，于是让客户修改成 “VERY_HIGH”，经测试问题仍然存在。
/ b! f4 D9 J; o% R$ i6 y由于之前发生过一个从低功耗唤醒后死机的问题，是与 Cache 相关的问题，于是要测试下将 CACHE 关闭的情况。 这次经测试客户反馈问题没现重现 ! 但客户同时也反馈,之前的代码也存在稍微修改一处代码，问题就不再重现的现象，没有找到具体规律。 这次代码修改也没排除这种可能性。
为了让关闭 Cache 的方法更具效力，于是让客户在调试模式下通过手动关闭 CACHE的方式，代码仍然保持为原先可以重现问题的代码。如下图所示 :
6 F- C- H2 B* e$ i7 R4 Z




如上图所示，在代码运行到使用 CACHE 后一行设置断点，当程序停下来后，打开 Sys Ctrl/Cfg 窗口(菜单 view->system viewer->Core peripherals->system control and configuration)，将对应的位去掉。 最终客户反馈，关闭 DC,或者 IC 任何一个或者两个都关闭，问题现象消失。 至此可以确定地是，此问题与 CACHE 相关 !
于是查看客户的 MPU 相关配置，并将 Cube 包里的 H750 示例工程中的 MPU 配置发给客户测试下，但问题仍然存在。
% q6 A0 E1 j* I( H+ U; S2 L" z接下来查看勘误手册，发现 2.4.4 节有 QSPI 相关的内容：
& I$ U1 z$ {$ A  y; e
' T% @) `2 J& {) f( i& J
2 z' V4 ?% ?* J7 f. d) d) L+ T" g


- I* K' |% t# W  D这里有提到在 QSPI 外设 FLASH 并工作在 memory-mapped 模式的时候，当读取由FSIZE 定义的最后一个字节的时候，不管内容如何，有可能会导致 AXIs 总线 STALL 掉。并同时给出了三种规避措施。 其中第一种是将 FSIZE 定义得比实际大，以留有足够的裕量。 于是让客户修改代码：
" K. }7 ~; `: T- m4 o在 QSPI 初始化时将 size 设置成大一倍：
8 L/ o# k9 a/ Z 上面红色部分表示的 nor flash 设置成实际的两倍大小。
同时考虑到此处定义了实际两倍大小的 FLASH，多出来的另外一半实际是不存在的，为了避免 CPU 意外访问这个实际不存在的区域，使用 MPU“告诉”CPU 这多出来的一半区间是不可访问的。 于是 MPU 按如下来配置：
- k$ g; q4 R3 b9 B2 Y0 X- z' t
( G% T. u! s' l) n$ Z% B+ o8 C
( ?& g  x- D( o6 f) @

4 u' ^/ W, K% L
# a- Q; d" H2 G2 l2 I& O客户再次测试，结果问题不再重现。 为了进一步验证问题，客户尝试按原先的代码直接读取 NOR FLASH 的最后一个字节，结果问题也会重现，再次验证此方法的有效性，至此问题解决。


完整版请查看：附件 程序运行在 STM32H750 的外扩 FLASH 上两小时后死机.pdf (452.44 KB, 下载次数: 3)

2023-2-17 16:06 上传

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