当前设备中使用STM32F103VCT6芯片，程序包含了BOOT和APP两个程序，在做低温测试的时候，遇到了如下问题：
1.如果BOOT初始化时钟的时候，使用LSI和HSE，在APP里面重新配置为LSE和HSE，那么设备在零下10℃的时候重新上电，APP初始化LSE过不去；
2.如果BOOT初始化时钟的时候，使用LSE和HSE，在APP里面重新配置为LSE和HSE，那么设备在零下10℃的时候重新上电，APP初始化LSE是可以过去的；
    请教论坛的大咖们是什么问题造成的，如果说是LSE匹配电容问题，那么应该任何情况下都不会成功。

STM32F103的RTC，温度一低就有小小概率无法起振。看一下官方的那篇晶振应用比较好。