问题：在 STM8L152 数据手册中,参数 IDD(RUN)的典型值是 1.97mA。

  Q$ U( h5 Z; R2 C; S

调研：
1 e; G2 S5 [# ~1 P- E3 {3 }使用 STM8L-discovey 板进行测试，得到的结果和客户的测试结果类似，偏高。进一步测试，改变测试代码后，得到的结果和数据手册中的数据符合。
0 F" p/ y# F' S$ @2 q/ |初始的测试代码框架：
1 n, d$ v, u' a8 |0 C$ K

1. /* Initial configuration */
   4 d- z2 U0 ]3 ~# I5 z  Z. w6 o( V  I
2. {…… }
   ; m9 H' X- ]0 b
3. /* IOs configuration */
   
4. {…… }
   
5. /* Infinite loop for IDD test*/
   
6. While(1);

复制代码

改进的测试代码：
- I+ J- B& n7 V2 R, }/ Q0 V8 J

1. /* Initial configuration */
   6 H; c  j  a& ~
2. {…… }
   , D( T, y+ I9 B0 K/ E2 G! C
3. /* IOs configuration */
   * u% _2 u: e, C, A! q  V; Y
4. {…… }
   
5. /* Infinite loop for IDD test*/
   ) A8 M0 B5 v- R" G/ s4 M
6. While(1)
   
7. {
   
8. -asm(“nop”);
   
9. -asm(“nop”);
   
10. -asm(“nop”);
    0 X  ^: u, d, s  S  b: b: l0 B
11. }

复制代码

( N- s2 `' I7 Q6 i/ M, f
结论：
当 while 循环中没有任何指令时，CPU 每次仅取 1 条指令（尽管预取缓冲是 32 位，可以存 4 条指令）。这样，CPU 需要经常访问存储器取指而造成电流增大；
; ~7 @& W9 d' j) d4 |: K当 while 循环中增加 3 个 NOP 指令时，CPU 取指频率降低，从而降低了功耗。

建议：
2 m4 z# A- \0 P  ]对于功耗测试，软件配置和硬件配置都很重要。一般而言，低功耗模式下的数值意义比较大，因为外设或者 CPU 是关闭的。测试时主要是避免可能的漏电流（如 IO 口不确定状态可能不停翻转带来的漏电流）。但是在普通工作模式下，一者条件比较多，二者测试代码本身也有可能影响测试结果。这个因素在实际测试中要加以考虑。
+ h# @* y* k- z# N