STM32F2高低温死机问题

前言
8 ~+ i) `! n( q( B# E+ P' L本篇讨论了 一个STM32F2在用户产品进行高低温测试死机的例子。
& T" j2 w. ~) L! L& `/ y
问题：
) P! Y2 @/ J* q7 A. V某用户使用STM32F2进行产品设计。当进行高低温试验时，发现高温时产品死机。

分析：
首先，芯片的工作范围是在温度85摄氏度以下。经了解，客户实测的温箱温度在70摄氏度左右，并未超过限制。然而，客户也表示芯片表面温度较高，有可能恰好达到了85摄氏度。此点需要进一步排查。
/ a, s+ j/ ?* s' f9 g6 s) ^9 B! ]进一步了解，在产品中芯片工作在120MHz。而当频率降低到60MHz时也一切正常。由此推测，此问题可能并非由温度导致。
# q" v$ k. t, r# A1 T, H分析原理图，发现Vcap引脚上电容接的过小，没有达到2.2uF。而产品手册中明确标明了这一点：
' @0 [6 r+ n3 [/ w0 Y. |' o

不论此问题是否是导致这个问题的原因，这点都必须加以改进，消除隐患。
3 G) J7 d" J/ \7 Z: ?
' m* V4 w! t# x# V进一步了解软件，发现客户的代码中没有对Flash等待周期进行设置。
查询手册可得知，只有当芯片工作于较低频率时，才可以不加等待周期。而具体这个频率是多少，和芯片的工作电压也有关系。
: s9 k( u1 A$ ~1 f2 X% D) W

! C6 B6 ~+ h7 j0 s- R" q$ P7 [+ H根据客户产品上芯片的实际工作条件，将Flash等待周期调整为4。

( c; B5 K, j  K/ J经过以上措施，高温试验时一切正常。
6 G  O! S- W2 h2 f由此可以看出，对于一些表面很象的原因还需要仔细分析、耐心查找，才能找到真正的症结所在。

8 o0 y; P; I5 {6 k文档下载地址：
https://www.stmcu.org.cn/document/list/index/category-1033

实战经验汇总：
https://www.stmcu.org.cn/module/forum/thread-576401-1-1.html

请问下，STM32怎样设置flash的等待周期，之前没有设置过这个

非常有用，谢谢！

我在低温-25°时 出现了CAN外设无法正常初始化导致 超时卡死。 主芯片也是F2,120Mhz ,主芯片外面没有接任何can芯片，但是有CAN通讯任务在进行，虽然CAN无法通讯，但常温下一切正常。-上电运行正常，但是手动复位或软件复位后启动时会出现出现 CAN外设无法正常初始化导致 超时卡死，这会是什么原因呢？