前言
本篇 LAT 的内容简介了一个由 RAM 上电后初始值引起的问题。

问题
客户反映，某产品试生产时出现问题，故障率在 10%左右。该故障可以复现，并且将芯片（MCU）更换到新的电路板也无法解决。因此，客户怀疑是芯片出现质量问题。


分析
粗看下来，故障确实比较象是由于芯片本身质量引起的。但是仔细查看代码，发现程序中有一段值得怀疑。该部分代码利用 RAM 中某个字节的值来判断芯片是否发生过掉电，并据此执行不同的分支。一般而言，在芯片上电以后但是没有进行初始化之前，那么 RAM（这里不包括寄存器）中的值是随机的。客户开发时曾询问过这一点，所以开发时加以利用。
那么，究竟该怎么理解这个“随机”呢？
这里“随机”的意思是，任何值都是可能的。因此，当芯片发生若干次掉电上电时，对同一个 RAM 字节来说，里面的值可以每次都不一样，也可以每次都一样，也可以有时一样有时不一样。因此，应理解这个“随机”为“不保证为任何值”。
而客户恰恰认为，既然是随机的，那么每次值都应该是不同的。


处理
综上分析过程，尽管思路是完全可行的，但是由于对“随机”的含义理解错误，所以程序中只判定RAM 中一个字节的值存在一定的风险。
解决方法是在判定条件中，将判断 1 个字节的值更改一下，例如判断 3 个字节（或者更多）的值是否相同（可以使用多数判决）。同时，选取这 3 个字节的时候，尽量使得它们的地址分散一些。这样，误判的概率就大大降低。
对于某些芯片来说，还有其他的判断方法。例如，对于 STM32 系列来说，在寄存器 RCC_CSR 寄存器中的最高位一般都是上电标志；此外，对于部分产品，还可以在 BKP_DR（或者是 RTC_BKP 之类，根据产品不同）寄存器中写入特定序列来判断。


结论
此例实际上是由于对“随机”一词的理解不同造成的问题，而非芯片质量问题。经过重新修改程序后，该问题不再出现。